三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測(cè)試儀MCP-PD51的介紹使用

三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測(cè)試儀MCP-PD51的介紹使用

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用于研究開發(fā)、質(zhì)量管理第一線，執(zhí)行粉體之物性管理

與阻抗率計(jì)Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接，以測(cè)定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗

樣品的交換、清掃簡(jiǎn)單、可采一觸式著離探頭

各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積

測(cè)定及數(shù)據(jù)、備有達(dá)執(zhí)行圖形化之軟件以供選購(gòu)

原理：

通過使用粉專用探針，可以在任意壓力下測(cè)量導(dǎo)~絕緣的電阻率。 不是模擬一個(gè)粒子，而是模擬加壓成形的粒子的集合狀態(tài)，起因于填充特性

可以求出乘積電阻率。

測(cè)定對(duì)象：

碳基粉末…二次電池電極材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纖維/納米碳等

金屬粉…電池電極材料/銅粉等薄膜材料/導(dǎo)電性漿料等電路基板材料/導(dǎo)電性涂料/壓粉原料等

調(diào)色劑/樹脂/食品用粉類/陶瓷/粉涂料等絕緣性粉粉末粉體

電阻值：

低電阻10-3Ω~107Ω高電阻103Ω~1013Ω

測(cè)量方法：

低電阻四探針方式(電極間隔3mm )高電阻雙環(huán)法